彼爱姆15JA测量显微镜
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商品详情
用途
15JA测量显微镜是光学计量仪器之一种，它的结构简单，操作方便，适用范围极广，主要用途如下：
1.直角坐标中测定长度，例如测定孔距、基面距离、刻线距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、通孔外圆直径等等。
2.转动度盘测定角度，例如对刻度盘、样板、量规、钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。
3.用作观察，以比较法检查工作表面粗糙度，鉴定冶金工业的矿石标本，检定印刷照相制版，检验纺织纤维等等。
1、光学系统规格
| 物 镜 | 目 镜 | 显微镜 放大倍数 | 工作距离 (mm) | 视场直径(mm) | ||
| 放大倍数 | 焦距 (mm) | 放大倍数 | 焦距 (mm) | |||
| 2.5X/0.08 | 43.40 | 1OX | 25.00 | 25X | 58.84 | 5.6 |
| 10X/0.25 | 17.13 | 100X | 7.81 | 1.4 | ||
2、测量工作台读数装置主要规格
X轴移动测量范围：50mm
Y轴移动测量范围：13mm
测微器分度值：0.01mm
测量台转动范围：不限
测量台刻度盘分度范围：0°～360°
测量台刻度盘之分度值：1°
测量台刻度盘游读数示值：6′
3、测量精度
仪器示值误差：±(4+L/15)um
仪器示值误差：包括测量误差与仪器系统误差
注：测量地点温度变化(20±3)℃
L-被测件长度(mm)
4.仪器之主要尺寸
测量台与物镜间之最大距离：80mm
测量工作台直径：120mm
5、光源：下照明
