上光六厂光切法显微镜9J

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  • 品 牌 上光六厂|SOIF
  • 型号 9J
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商品详情

显微镜特点:
显微镜9J是以光切测量另件加工表面的微观不平度。其能判国家标准GB1031-68所规定▽3-▽9级表面光洁度。(表面粗糙度12.5-0.2)对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。

技术参数:
1.本仪器在原有的基础上进行了光学系统升级,明场成像更清晰,避免看不清测量读数刻线。
2.配备粗微动同轴调焦系统,粗动松紧可调,微动格值:2μm,使之更加准确的找到成像面。
3.一体化结构机身,无需另配变压电源,操作简洁、方便。
4. 非接触式测量,不会破坏样品表面层,经过计算后确定纹痕的不平度。

类型 

9J

测量范围不平度平均高度值(微米)

>0.8-1.6

>1.6-6.3

>6.3-20

>20-80

表面光洁度(级别)

9

8~7

6~5

4~3

所需物镜

60X/0.55

30X/0.40

14 X/0.20

7X/0.12

总放大倍数

510X

260X

120X

60X

物镜组件工作距离(mm)

0.04

0.2

2.5

9.5

视场(mm)

0.3

0.6

1.3

2.5

摄影装置放大倍数

约6倍

测量不平度范围

(0.8-80)微米

不平宽度

用测微目镜:0.7微米-2.5毫米

用座标工作台:(0.01-13)毫米

仪器重量约

23公斤

外形尺寸(mm)

约180*290*470毫米